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综合物性测量系统

设备编号	2014142100	仪器负责人	龙云泽
中文名称	综合物性测量系统	英文名称	Physical Property Measurement System
规格型号	Ever cool II	产地国别	美国
仪器安放地址	amjs澳金沙门线路首页中心校区西院博逸楼307
主要科学领域	材料的磁学、电学、热学等物性进行高精度的测量，可应用于材料科学、物理学、化学、电子学、半导体和地质学等领域。
主要技术指标	温度控制范围:1.9-350 K；温控精确度:±1%（从零场—9T）；温度扫描速度:最快达到12 K/min. 温度稳定性:±0.2% T< 10 K；±0.02% T> 10 K 系统磁场强度：纵向磁体: ±9 T；场均匀性:±0.01% ；扫描速度: 1-200高斯/秒. 磁场分辨率: 0.02 mT，0
主要功能	在磁学性质方面可测量磁化强度随温度的变化M(T)、磁化强度随磁场的变化M(H)（磁滞洄线）、直流磁化率、磁各向异性等；在直流输运性质方面，可测量直流电阻、伏安特性、霍尔系数等；在交流输运性质方面，可测量交流电阻率、伏安特性、5线法霍尔效应等。

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